答：首先時(shí)代產(chǎn)品有非常高的質(zhì)量保障，擁有國內(nèi)最大最先進(jìn)的生產(chǎn)線，近二十年的生產(chǎn)歷史，目前國內(nèi)占有率在70％以上，服務(wù)便捷。作為一家以檢測儀器為主業(yè)在深交所上市的高薪技術(shù)企業(yè)，時(shí)代公司在生產(chǎn)、開發(fā)、銷售各方面擁有非常雄厚的實(shí)力。

    答：時(shí)代涂層測厚儀可以測量磁性金屬基材上的非磁性涂層的厚度，非磁性金屬基材上非導(dǎo)電層的厚度。

    答：目前時(shí)代產(chǎn)的涂層測厚儀還不能夠測量非金屬材料上的涂層厚度，只能測量鐵基上非磁性材料的涂層，非鐵基金屬材料上絕緣層的厚度。

    另：對于非金屬基體材料的涂層測量目前可選擇電解、X射線、超聲涂層等方面的儀器，但是各種方式都有利弊，電解會(huì)破壞材料，X射線測厚儀造價(jià)比較高，超聲涂層測厚儀準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性不是很好，目前有很多用戶使用時(shí)代測厚儀通過間接方法進(jìn)行測量，例如：噴涂過程中將金屬材料與非金屬材料同時(shí)噴涂，然后測量同一工藝下的金屬涂層厚度，間接得出非金屬材料噴涂的厚度。

    答：時(shí)代測厚儀不能測量高溫材料，原則上只能測60度以下的材料。

    答：不能！因?yàn)殒嚰葘?dǎo)磁有導(dǎo)電，所以不能測量鍍鎳層的厚度。

    答：選配TT260配以F10探頭，可測量0－10mm的涂層厚度。

    答：對于滿足測量材料要求的管道內(nèi)壁的電鍍層時(shí)代有專門的F1/90探頭，最小半徑要求：

R＞7mm即可。

    答：選配時(shí)代F400型探頭可以穩(wěn)定的測量5um的厚度

    答：時(shí)代渦流測厚儀可以測量銅上鍍鉻的工件，但是鉻層必須小于40um。

    答：對于滿足厚度要求的薄膜、紙張的厚度通過底部襯金屬基材的方式是可以測量的，目前這方面的應(yīng)用客戶很多。

    答：直徑比較小的螺桿上面螺紋涂層的厚度目前時(shí)代儀器不能測量。

    答：目前時(shí)代涂層測厚儀中TT260可以選配通訊軟件，新版軟件在原軟件基礎(chǔ)上進(jìn)行了升級，功能強(qiáng)大實(shí)用性強(qiáng)，包括聯(lián)機(jī)下載、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、測量分析、技術(shù)支持等，輸出方式有WORD文檔、EXCEL表格、TXT文本、HTML網(wǎng)頁，可與計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)傳輸、實(shí)時(shí)打印。當(dāng)用戶需要對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行系統(tǒng)分析建立數(shù)據(jù)庫時(shí)建議選用時(shí)代TT260通訊軟件。

    答：CN02探頭是專門用來測量線路版上銅箔厚度的，量程為0－200um

 

a) 基體金屬磁性質(zhì)
    磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b) 基體金屬電性質(zhì)
    基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c) 基體金屬厚度
    每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d) 邊緣效應(yīng)
    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e) 曲率
    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形
    測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g) 表面粗糙度
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

g) 磁場
    周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

h) 附著物質(zhì)
    本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i) 測頭壓力
    測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

j) 測頭的取向
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

a) 基體金屬特性
    對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
    對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b) 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

c) 邊緣效應(yīng)
    不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。

d) 曲率
    不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

e) 讀數(shù)次數(shù)
    通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

f) 表面清潔度
    測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。